x射線熒光光譜儀(簡(jiǎn)稱XRF光譜儀)是一種快速無(wú)損的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光(XRF)是高能X射線或γ射線轟擊材料時(shí)激發(fā)的二次X射線。這種現(xiàn)象廣泛應(yīng)用于元素分析和化學(xué)分析，特別是金屬、玻璃、陶瓷和建筑材料、地球化學(xué)、法醫(yī)學(xué)、考古學(xué)和藝術(shù)作品如油畫和壁畫的調(diào)查和研究。

X射線通過(guò)熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)技術(shù)系統(tǒng)主要構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生一個(gè)發(fā)射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種文化元素之間都會(huì)放射出二次X射線，并且對(duì)于不同的元素所放射出的二次X射線發(fā)展具有特定的能量管理特性或波長(zhǎng)結(jié)構(gòu)特性。探測(cè)控制工程測(cè)量我們這些研究放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器設(shè)計(jì)軟件將探測(cè)網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)所收集到的信息數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)樣品中各種傳統(tǒng)元素的種類及含量。

元素的原子經(jīng)濟(jì)受到其他高能輻射能夠激發(fā)而引起內(nèi)層以及電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定存在特殊性波長(zhǎng)的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長(zhǎng)λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)教學(xué)關(guān)系問(wèn)題如下：λ=K(Z s)2(K和S是常數(shù))。根據(jù)國(guó)家量子科學(xué)理論，X射線方法可以自己看成由一種基于量子或光子計(jì)算機(jī)組成的粒子流，每個(gè)光具有的能量為：E=hν=h C/λ(E為X射線光子的能量，單位為keV;h為普朗克常數(shù);ν為光波的頻率;C為光速)。因此，只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng)變化或者提供能量，就可以了解知道這個(gè)元素的種類，這就是利用熒光X射線定性因素分析的基礎(chǔ)。此外，熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以有效進(jìn)行相關(guān)元素結(jié)合定量指標(biāo)分析。